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靜電放電（ESD）的破壞作用具有隱蔽性、潛在性、隨機(jī)性和復(fù)雜性的特點。來自Intel的資料表明，在引起電子器件故障的諸多因素中，ESD是最大的隱患。所以，模擬靜電放電的測試在世界范圍內(nèi)得到廣泛關(guān)注。手機(jī)靜電放電失效的具體表現(xiàn)1.手機(jī)通話中斷...

高頻噪聲模擬器（使用半導(dǎo)體繼電器）INS-S420為了解決市場上出現(xiàn)的問題此設(shè)備是模擬類似開關(guān)元件觸點之間的放電，電子馬達(dá)產(chǎn)生的電弧放電等，上升時間很快，高頻率的噪聲，來評價電子設(shè)備的抗干擾能力的測試設(shè)備。因為包含測試脈沖中的頻率成分的脈沖...

在EMC中電場耦合是因為位移電流(displacementcurrent)的電容性效應(yīng)而產(chǎn)生。實際上我們并沒有要電流流經(jīng)某一特定方向，但是因為結(jié)構(gòu)上形成的寄生電容對電流提供了一個低阻抗的路徑，該路徑的阻抗比設(shè)計上的電流路徑阻抗更低。因為電流...

產(chǎn)品無法在實驗室通過測試，并不是產(chǎn)品本身EMC設(shè)計不好，而是實驗室測試環(huán)境問題導(dǎo)致測試不通過。EMC是一個系統(tǒng)工程問題，要想達(dá)到最終的目的，除了對自己熟悉的產(chǎn)品外，測試及應(yīng)用環(huán)境等也應(yīng)該清楚掌握。作為一名EMC工程師，下面這些問題，都是你曾...

IEC（國際電工委員會）即將發(fā)布旨在保護(hù)非金屬船體免受電磁(EM)干擾的重要標(biāo)準(zhǔn)第一版，該文件旨在滿足IMOresolutionA.813(19)決議的要求。IEC62742ED1提供了關(guān)于如何在非金屬材料（包括玻璃纖維等各種復(fù)合材料）船體...

測試電子產(chǎn)品必須按照IEC61000-4-2等標(biāo)準(zhǔn)來。系統(tǒng)設(shè)計師采用多種方法來確保產(chǎn)品符合主流的ESD標(biāo)準(zhǔn)，包括解決外殼設(shè)計、電路板設(shè)計、元件選擇，甚至是軟件修復(fù)。其中一個重要的方法是在輸入和輸出(I/O)連接器等關(guān)鍵電路節(jié)點處使用保護(hù)元件...